2020-03-17 10:11:59 来源:互联网
当前我们使用的固态硬盘几乎都采用了NAND闪存,它是由东芝在1987年发明。闪存依靠保存电荷来记录数据,我们可以把对闪存的写入想象为向电池中充电,而擦除过程就是将电池中的电量迅速放光。
闪存单元中的Floating Gate浮栅结构充当了“电池”的角色,它可以被“放电”或者“充电”。依据电压的不同,闪存就可以表达出电脑二进制0或1。
固态硬盘能够在电脑关机后继续保存记忆,关键在于位于Floating Gate浮栅下方的Tunnel Layer隧道层。它起到了防止浮栅中电子流失的作用。但长期和反复的读写会在闪存隧道氧化物层上产生应力,导致缺陷的出现。
产生缺陷的隧道氧化物层阻挡电子流失的能力下降,在长期不通电的情况下,闪存单元中的电流流失过多,就会改变其电压状态,进而导致数据在读取时出错。
从原理上说,隧道氧化物层的“磨损”是不可逆的,所以固态硬盘终有一死。不过在闪存从平面转向立体堆叠的过程中,闪存单元的结构也进行了升级。
最早在2007年由东芝提出的BiCS三维闪存结构中使用Charge Trap电荷陷阱取代Floating Gate,前者为绝缘体,对电子的保持能力更强,同时允许使用更薄的隧道氧化物层,进而能够在写入和擦除时使用相对较低的电压,减少对氧化物层的“磨损”。
当然,东芝BiCS闪存的优势还有很多:高密度高容量、更快的写入速度、高可靠性、低功耗等等。
由东芝推动的闪存技术创新允许将固态硬盘作为数据长期存储载体,并提供极高的安全性,正常家用无需担心寿命。
郑重声明:中国IT研究中心网站刊登/转载此文出于传递更多信息之目的 ,并不意味着赞同其观点或论证其描述。中国IT研究中心不负责其真实性 。
免责声明:本网站(http://www.ciotimes.com/)内容主要来自原创、合作媒体供稿和第三方投稿,凡在本网站出现的信息,均仅供参考。本网站将尽力确保所提供信息的准确性及可靠性,但不保证有关资料的准确性及可靠性,读者在使用前请进一步核实,并对任何自主决定的行为负责。本网站对有关资料所引致的错误、不确或遗漏,概不负任何法律责任。
本网站刊载的所有内容(包括但不仅限文字、图片、LOGO、音频、视频、软件、程序等)版权归原作者所有。任何单位或个人认为本网站中的内容可能涉嫌侵犯其知识产权或存在不实内容时,请及时通知本站,予以删除。